博 主 简 介

当前位置:首页 » 应用初级篇 » 正文

蔡司VASTXXT探头扫描过程测力演示

 人参与  2017-09-26 22:14  分类 : 应用初级篇  评论

请关注上方“三蔡技术交流论坛”或长按关注,获取更多内容

阅读本篇文章前,可以参考

扫描式传感器,与众不同的触发原理介绍

"蔡司VAST探头扫描过程测力演示"

VAST XXT是常见的另一款接触扫描传感器。下面我们会通过实验得出相同的结论: VAST XXT传感器在扫描过程中的测力也是恒定的

  • VAST XXT传感器如下图所示:

  • 在这个实验中,我们会使用蔡司硬件同事其中一个专业的调试检测设备:测力计。有了这个设备,就可以精确的查看到扫描时的测力,以便进行分析讨论

实验方法:将测力计水平摆放,使用主探针测量平面,分别使用了标准(默认),敏感和粗糙三种探测行为。在Calypso软件中,元素检测行为的设置方法:资源 - 元素设置编辑-探测-被动传感器的探测行为


从下面的视频里可以看到,

1 设置不用探测行为,标准,还是敏感,还是粗糙的,扫描的接触力是不相同的。

2 在扫描测量平面过程中,测力计的测力是恒定的。从而能和工件表面保持均匀贴合状态获取测量点,得到稳定可靠的数据。




来源:虞军博客(微信/QQ号:18136545850/924002502),转载请保留出处和链接!

本文链接:http://www.mark-yu.com/post/247.html

文章底部广告(PC版)

本文标签:  

微信号:18136545850

加入【蔡司三坐标交流论坛】QQ群:376426921(加群验证:虞军博客)

这里的内容可以随意更改,在后台-主题配置中设置。

<< 上一篇下一篇 >>
评论框上方广告

  • 评论(0)
  • 相关文章

    电商服务类广告投放

    ◎欢迎参与讨论,请在这里发表您的看法、交流您的观点。

    搜索

    网站分类

    Tags列表

    最新留言

    我是标题

      内容的形式各种各样,可以是文本,也可以是各种广告等。

    Copyright Your WebSite. Mark Rights Reserved.